|
|||||
|
|
| 某制导弹药电子延时器长贮退化原因探析 | |
| 作者姓名： | 赵铁山 齐杏林 郑波 王铄 |
| 作者单位： | [1]军械工程学院,河北石家庄050003 [2]总装军械技术研究所,河北石家庄050003 [3]国营第三○四厂军代室,山西长治046000 |
| 摘 要： | 通过对某制导弹药电子延时器进行失效模式分析及仿真模拟,探寻可能出现的长贮失效模式与原因。以自然贮存9年的电子延时器为样本,制订了步进温度应力加速退化试验方案,开展试验并对试验结果进行分析,得出可能导致产品退化的各种原因。 |
| 关 键 词： | 电子延时器 长贮 加速退化 制导弹药 |
| 本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录！ | |