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自释釉瓷质砖的制备及机理研究
摘    要:以钾长石、石英、高岭土为主要原料,以碳酸钠为自释剂,在烧成温度1150~1300℃制备自释釉瓷质砖。采用坯体分层和质量差值法研究自释剂在干燥阶段的扩散过程。采用光泽度仪、SEM、EDS等对自释剂含量、烧成制度等因素对试样的光泽度、微观结构及元素分布等进行研究。结果表明:自释釉为自释剂在干燥和烧成阶段扩散到坯体表面熔融形成的结果。当自释剂的添加量为5%,烧成温度1200℃、保温时间30 min的条件下,可获得效果较好的自释釉瓷质砖,吸水率为0.5%、釉层厚度约为0.3 mm、光泽度为58,且试样边缘没有形变(圆角现象)。

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