碲镉汞表面纯化膜界面电学特性研究 |
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引用本文: | 张新昌,王戎兴.碲镉汞表面纯化膜界面电学特性研究[J].光学精密工程,1996,4(5):55-60. |
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作者姓名: | 张新昌 王戎兴 |
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作者单位: | 中国科学院上海技术物理研究所 |
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摘 要: | 利用MIS结构,在国内首次研究了新型热蒸发CdTe/ZnS复合钝化膜与碲镉汞之间的界面电学特性。发现GdTe/ZnS双层膜在适当工艺条件下,固定电荷密度为-4×10^10cm^-2,慢态密度为5.1×10^10cm^-2,快态密度为2.7×10^11cm^-2eV^-1。以上参数优于目前光伏器件采用的单层ZnS钝化膜,说明CdTe/ZnS复合膜是光伏器件的优良钝化膜。同时也研究了其它两种钝化膜,单
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关 键 词: | HgCdTe 钝化膜 界面电学特性 红外材料 |
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