首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

X射线衍射线形Fourier变换
引用本文:刘刚,梁志德,卢柯.X射线衍射线形Fourier变换[J].金属学报,2002,38(1):109-112.
作者姓名:刘刚  梁志德  卢柯
作者单位:1. 中国科学院金属研究所沈阳材料科学国家,联合,实验室,沈阳,110016
2. 东北大学材料科学与工程系,沈阳,110004
基金项目:国家自然科学基金资助项目50071061
摘    要:采用计算机辅助实验技术,研究X射线衍射线开在仪器宽化修正过程中Fourier系数变化的规律及其影响,结果表明,只要实测线形接近Gauss 分布,Fourier变换就会导致弯勾效应;Forier变换可引起真实线形的尾部波动及大于实际值的宽化,引入边界条件可予以消除,Kα双线形经过Fourier变换后,Fourier纱数与真实Fourier系数存在着一定的差异。通过真实线形的Fourier变换可以修正。

关 键 词:X射线衍射线形  Fourier变换  Fourier系数精修  纳米材料
文章编号:0412-1961(2002)01-0109-04
修稿时间:2001年8月17日

THE FOURIER TRANSFORMATION OF X-RAY DIFFRACTION PROFILES
LIU Gang,LIANG Zhide'',LU Ke.THE FOURIER TRANSFORMATION OF X-RAY DIFFRACTION PROFILES[J].Acta Metallurgica Sinica,2002,38(1):109-112.
Authors:LIU Gang  LIANG Zhide'  LU Ke
Abstract:Computer-aided experimental technique was adopted to analysis the variance regularity of Fourier coefficients in the Stokes correction of X-ray diffraction profile. The hook effect occurs when the experimental profiles approach Gauss distribution. The Fourier transforms may result in spurious oscillations and more broadening of the real profile, which can be eliminated by introducing a critical condition. The Fourier coefficients obtained from the Stokes correction of Ka doublet profile are found to deviate from the real values obtained from that of singlet profile, which may be refined through the Fourier transformation of the deconvoluted(real) profile.
Keywords:X-ray diffraction profile  Fourier transformation  refinement of Fourier coefficient
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号