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Cu2SnS3薄膜的制备及性能研究
引用本文:杜金会,于振瑞,张加友,王妍妍,李正群. Cu2SnS3薄膜的制备及性能研究[J]. 光电子技术, 2004, 24(3): 151-155,158
作者姓名:杜金会  于振瑞  张加友  王妍妍  李正群
作者单位:军事交通学院基础部,天津,300161;军事交通学院基础部,天津,300161;军事交通学院基础部,天津,300161;军事交通学院基础部,天津,300161;军事交通学院基础部,天津,300161
摘    要:采用LBL(1aYer-by-layer)法制备了Cu2SnS3薄膜。即首先采用电化学方法在SnO2衬底上制备SnS薄膜,然后又在其上用化学沉积法制备CuS薄膜,最后进行退火处理得到厚度约为960nm的CuzSnS3薄膜。探讨了薄膜的制备机理、生长速度、结构和光学特性。制备的薄膜为多晶(Cu2SnS3)72z(三斜或假单斜晶系)结构,其直接光学带隙约为1.05eV。

关 键 词:Cu2SnS3薄膜  LBL(layer-by-layer)法  结构特性  光学特性

Study on the Preparation and Their Properties of Cu2SnS3 Thin Films
Abstract:
Keywords:
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