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一种新型全耗尽双栅MOSFET
引用本文:张国和,邵志标,韩彬,刘德瑞. 一种新型全耗尽双栅MOSFET[J]. 半导体学报, 2007, 28(9): 1359-1363
作者姓名:张国和  邵志标  韩彬  刘德瑞
作者单位:西安交通大学电子科学与技术系,西安,710049;西安交通大学电子科学与技术系,西安,710049;西安交通大学电子科学与技术系,西安,710049;西安交通大学电子科学与技术系,西安,710049
摘    要:提出一种新型全耗尽双栅MOSFET,该器件具有异质栅和LDD结构.异质栅由主栅和两个侧栅组成,分区控制器件的沟道表面势垒.通过Tsuprem-4工艺模拟和Medici器件模拟验证表明,与普通双栅全耗尽SOI相比,该器件获得了更好的开态/关态电流比和亚阈值斜率.在0.18μm工艺下,开态/关态电流比约为1010,亚阈值斜率接近60mV/dec.

关 键 词:异质栅  关态电流  亚阈值斜率  SOI场效应晶体管
文章编号:0253-4177(2007)09-1359-05
收稿时间:2007-01-31
修稿时间:2007-01-31

A Novel Fully-Depleted Dual-Gate MOSFET
Zhang Guohe,Shao Zhibiao,Han Bin and Liu Derui. A Novel Fully-Depleted Dual-Gate MOSFET[J]. Chinese Journal of Semiconductors, 2007, 28(9): 1359-1363
Authors:Zhang Guohe  Shao Zhibiao  Han Bin  Liu Derui
Abstract:
Keywords:hetero-material gate  on/off current ratio  sub-threshold slope  SOI FET
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