首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

基于静态随机存取存储器型FPGA的测试技术发展
引用本文:张颖,毛志明,陈鑫. 基于静态随机存取存储器型FPGA的测试技术发展[J]. 电子与封装, 2021, 21(1): 37-47
作者姓名:张颖  毛志明  陈鑫
作者单位:南京航空航天大学电子信息工程学院,南京211100;南京航空航天大学电子信息工程学院,南京211100;南京航空航天大学电子信息工程学院,南京211100
基金项目:国家自然科学基金(61701228,61106029);模拟集成电路重点实验室基金(61428020304);航空科学基金(20180852005)。
摘    要:可编程逻辑门阵列(FPGA)技术迅速发展,广泛应用于各种电子系统中,与此同时,对FPGA测试的需求也日益增多。针对FPGA的测试方法和特性进行综述研究,给出了测试对象FPGA的分类,根据FPGA的类型特点说明其测试重点,并着重介绍了目前应用最广泛的基于静态随机存取存储器(SRAM)型FPGA的内部资源结构。重点针对SRAM型FPGA,对相应的现有测试方法进行了分类与特性分析。最后对测试技术的发展方向进行了展望。

关 键 词:FPGA测试  SRAM型FPGA  内建自测试  应用相关测试

Progress of Static Random Access Memory-based FPGA Testing
ZHANG Ying,MAO Zhiming,CHEN Xin. Progress of Static Random Access Memory-based FPGA Testing[J]. Electronics & Packaging, 2021, 21(1): 37-47
Authors:ZHANG Ying  MAO Zhiming  CHEN Xin
Affiliation:(College of Electronic and Information Engineering,Nanjing University of Aeronautics and Astronautics,Nanjing 211100,China)
Abstract:With the rapid development of programmable logic gate array(FPGA)technology and its wide application in various fields,the demand of FPGA testing is increasing,so the recent research on FPGA testing were summarized.Different types of FPGA were introduced according to their respective characteristics and their internal resource structure.It focused on the demonstration of SRAM-based FPGAs.Moreover,existing test methods and technologies on SRAM-based FPGA were analyzed and summarized.Furthermore,the prospect of FPGA testing technology was provided.
Keywords:FPGA testing  SRAM-based FPGA  built-in self test  application-dependent testing
本文献已被 维普 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号