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微机控制的光耦参数测试仪的设计
引用本文:栾伟峰,茅伟峰.微机控制的光耦参数测试仪的设计[J].工矿自动化,2006(4):53-54.
作者姓名:栾伟峰  茅伟峰
作者单位:1. 苏州工业园区职业技术学院,江苏,苏州,215021
2. 苏州半导体总厂有限公司,江苏,苏州,215000
摘    要:通过采用PC机打印口控制的光耦参数测试仪的制作过程,具体说明了该测试仪所用的接口电路、转换电路、测量电路以及用C语言编写的程序,使测试仪成为智能化的多功能仪表。实践证明该装置使用方便,测量精度高,控制性能好。

关 键 词:光耦测试仪  参数  PC机
文章编号:1671-251X(2006)04-0053-02
收稿时间:2006-04-24
修稿时间:2006年4月24日

The Design of Tester for Parameters of Photocoupler Controlled by PC
Abstract:
Keywords:
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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