|
|||||
|
|
| CMOS集成电路潜在缺陷的最小电压检测 | |
| 引用本文： | 王宁波,崔艳.CMOS集成电路潜在缺陷的最小电压检测[J].单片机与嵌入式系统应用,2009(3):42-43. |
| 作者姓名： | 王宁波 崔艳 |
| 作者单位： | 天津工业大学 |
| 摘 要： | 有潜在问题的芯片在正常的条件下缺陷不会显现出来，但是在一定的条件下会产生失效或者间歇性失效，从而造成芯片早期失效的质量问题。最小电压是芯片正常运行所需要的最小电压值，合格芯片与不合格芯片的最小电压值是不一样的，因此利用最小电压检测原理可以检测出有潜在缺陷的芯片。 |
| 关 键 词： | 最小电压检测 IC电路 潜在缺陷 |
Minimum Voltage Testing for Week CMOS ICs |
|
| Wang Ningbo,Cui Yan.Minimum Voltage Testing for Week CMOS ICs[J].Microcontrollers & Embedded Systems,2009(3):42-43. | |
| Authors: | Wang Ningbo Cui Yan |
| Abstract: | |
| Keywords: | |
| 本文献已被 维普 万方数据 等数据库收录！ | |