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基于SOI材料的刻蚀光栅分波器的制作工艺
引用本文:王文辉,唐衍哲,戈肖鸿,吴亚明,杨建义,王跃林. 基于SOI材料的刻蚀光栅分波器的制作工艺[J]. 半导体学报, 2005, 26(1): 138-142
作者姓名:王文辉  唐衍哲  戈肖鸿  吴亚明  杨建义  王跃林
作者单位:中国科学院上海微系统与信息技术研究所传感技术国家重点实验室,浙江大学信息与电子工程学系,中国科学院上海微系统与信息技术研究所传感技术国家重点实验室,中国科学院上海微系统与信息技术研究所传感技术国家重点实验室,中国科学院上海微系统与信息技术研究所传感技术国家重点实验室,中国科学院上海微系统与信息技术研究所传感技术国家重点实验室 上海200050,杭州310027,上海200050,上海200050,上海200050,浙江大学信息与电子工程学系,杭州310027,上海200050,浙江大学信息与电子工程学系,杭州310027
基金项目:国家重点基础研究发展计划(973计划)
摘    要:研究了基于绝缘材料上的硅(SOI)材料的平面波导刻蚀光栅分波器的主要制作工艺.利用电感耦合等离子体刻蚀(ICP)技术,在SOI材料上制作了垂直度大于89°的光滑的光栅槽面.氧化抛光后刻蚀侧壁的表面均方根粗糙度(RMS)有3nm的改善,达到7.27nm(采样面积6.2μm×26μm).通过采用集成波导拐弯微镜代替弯曲波导使1×4分波器的器件尺寸仅为20mm×2.5mm.测试结果表明器件实现了分波功能.

关 键 词:刻蚀光栅  波导镜  电感耦合等离子体刻蚀  绝缘材料上的硅  分波器
文章编号:0253-4177(2005)01-0138-05
修稿时间:2003-11-21

Process of Etched-Grating Demultiplexer Based on Silicon-on-Insulator
Wang Wenhui ,Tang Yanzhe ,Ge Xiaohong ,Wu Yaming ,Yang Jianyi ,,and Wang Yuelin . Process of Etched-Grating Demultiplexer Based on Silicon-on-Insulator[J]. Chinese Journal of Semiconductors, 2005, 26(1): 138-142
Authors:Wang Wenhui   Tang Yanzhe   Ge Xiaohong   Wu Yaming   Yang Jianyi     and Wang Yuelin
Affiliation:Wang Wenhui 1,Tang Yanzhe 2,Ge Xiaohong 1,Wu Yaming 1,Yang Jianyi 1,2,and Wang Yuelin 1,2
Abstract:
Keywords:etched diffraction gratings  waveguide turning mirror  inductively-coupled-plasma etching  silicon-on-insulator  demultiplexer
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