存储系统负载自相似性研究综述 |
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引用本文: | 邹 强,程 强. 存储系统负载自相似性研究综述[J]. 计算机科学, 2013, 40(3): 24-30 |
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作者姓名: | 邹 强 程 强 |
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作者单位: | (西南大学计算机与信息科学学院 重庆400715) |
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摘 要: | I/O突发是造成I/O瓶颈的一个主要原因,研究I/O负载中普遍存在的突发性并对负载进行精确合成,对存储系统设计及其性能评价具有重要意义。对实际I/O负载的研究表明,传统的泊松假定难以准确地描述长时间范围内的I/O突发行为。研究发现,I/O突发在不同时间尺度下具有相似性,即I/O负载具有自相似性,因此,自相似模型被用来刻画I/O负载中的长相关性。针对I/O负载自相似参数估计,总结了各种常用的时域和频域估值方法。着重对已有的I/O负载合成模型进行了剖析,讨论了各种自相似模型、多分形模型以及alpha稳定模型的特点。探讨了有待解决的开放性问题,并对I/O负载自相似性研究的发展趋势进行了展望。上述工作将对存储负载的自相似性研究提供有益参考。
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关 键 词: | 存储系统,I/O负载,自相似性 |
Survey of Studies on Self-similarity in Storage System Wor(}load |
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Abstract: | |
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Keywords: | Storage system I/O workload Self-similarity |
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