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干涉图去包裹位相的二次校正
引用本文:于瀛洁,陈明仪,韦春龙.干涉图去包裹位相的二次校正[J].仪器仪表学报,2002,23(5):537-539,543.
作者姓名:于瀛洁  陈明仪  韦春龙
作者单位:上海大学,延长校区,精密机械工程系,上海,200072
基金项目:上海市教育委员会青年基金资助项目。
摘    要:相位去包裹是移相干涉技术中关键的组成部分。一些去包裹算法在处理具有较多无效成像点的干涉图时,会在处理结果中引入较大的算法误差。提出了通过对去包裹位相进行二次校正的方法,实现去包裹位相算法误差的有效消除。文中通过基于DCT变换的最小二乘去包裹算法为例进行了说明,并通过一光学平晶表面的处理结果对方法进行了验证。

关 键 词:移相干涉技术  去包裹算法  二次校正

Double Revising after Phase Unwrapping of Interference Patterns
Yu Yingjie,Chen Mingyi,Wei Chunlong.Double Revising after Phase Unwrapping of Interference Patterns[J].Chinese Journal of Scientific Instrument,2002,23(5):537-539,543.
Authors:Yu Yingjie  Chen Mingyi  Wei Chunlong
Abstract:Phase unwrapping is a key segment in phase-stepping technique. A big error will occur when using some phase unwrapping algorithms to process the interference patterns with many invalid imaging points. The paper presents a double revising method to process unwrapping phase to remove its algorithm error. The paper uses the least-squares algorithm by the discrete cosine transform (DCT) as an example to explain this method. The test results of an optical flat testify its correctness.
Keywords:Phase-stepping interferometry  Phase-unwrapping algorithm  Double revising
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