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PIN-PT晶体铁电性和压电性的温度稳定性研究
引用本文:郭益平,罗豪甦,潘晓明,徐海清,殷之文. PIN-PT晶体铁电性和压电性的温度稳定性研究[J]. 无机材料学报, 2003, 18(5): 1005-1009
作者姓名:郭益平  罗豪甦  潘晓明  徐海清  殷之文
作者单位:中国科学院上海硅酸盐研究所高性能陶瓷和超微结构国家重点实验室,上海,201800
基金项目:国家自然科学基金(59995520),国家自然科学基金(59872048)
摘    要:测试了采用熔体法通过使用异质同构的Pb(Mg1/3Nb2/3)O3-PbTiO3籽晶生长出的Pb(In1/2Nb1/2)O3-PbTiO3单晶的铁电、压电性能的温度稳定性,研究结果发现,<001>取向的PIN—PT单晶不但具有非常优越的铁电、压电性能,其室温电容率ε达5000左右,介电损耗因子tgδ-1%,k33值最大可达到95%,d33值最大可达到3000pC/N左右.而且具有很高的温度稳定性,即使测试温度超过150℃,k33值也只下降不到10%.研究结果表明,该晶体是继PMN-PT和PZN—PT单晶之后又一种非常具有发展前途的单晶.

关 键 词:PIN-PT单晶 压电 介电 温度稳定性
文章编号:1000-324X(2003)05-1005-05
收稿时间:2002-08-08
修稿时间:2002-08-08

Temperature Dependence of Dielectric and Piezoelectric Properties of Pb(In1/2Nb1/2)O3-PbTiO3 Single Crystal
GUO Yi-Ping,LUO Hao-Su,PAN Xiao-Ming,XU Hai-Qing,YIN Zhi-Wen. Temperature Dependence of Dielectric and Piezoelectric Properties of Pb(In1/2Nb1/2)O3-PbTiO3 Single Crystal[J]. Journal of Inorganic Materials, 2003, 18(5): 1005-1009
Authors:GUO Yi-Ping  LUO Hao-Su  PAN Xiao-Ming  XU Hai-Qing  YIN Zhi-Wen
Affiliation:ShanghaiInstituteofCeramics;ChineseAcademyofSciences;Shanghai201800;China
Abstract:
Keywords:PIN-PT single crystal  dielectric  piezoelectricity  temperature stability
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