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像的解卷处理在球差校正场发射高分辨电子显微镜中的应用
引用本文:唐春艳,陈江华,李方华. 像的解卷处理在球差校正场发射高分辨电子显微镜中的应用[J]. 电子显微学报, 2004, 23(4): 359-359
作者姓名:唐春艳  陈江华  李方华
作者单位:1. 中国科学院物理研究所,北京,100080
2. National Center for HREM, Department of Nanoscience, Delft University of Technology and Netherlands Institute for Metals Research, Rotterdamseweg 137, 2628 AL Delft, The Netherlands
基金项目:国家自然科学基金资助项目 (No .5 0 0 72 0 43 )
摘    要:自Haider等人成功地将CM200场发射透射电镜改造成球差校正电镜以来,越来越多的人致力于相关的电镜技术及实验研究。在200kv的场发射透射电镜中,加入两个能产生可调性负球差的六极校正系统,使总球差系数Cs减小为0甚或为负。当Cs接近于零时,由CTF曲线(图1)可知,

关 键 词:场发射高分辨电子显微镜 图像解卷处理 球差校正 球差系数 成像参数

Application of image deconvolution to spherical aberration-corrected field-emission high-resolution transmission electron microscope
Abstract:
Keywords:
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