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基于复用的SOC测试集成和IEEE P1500标准
引用本文:吴超,王红,杨士元. 基于复用的SOC测试集成和IEEE P1500标准[J]. 微电子学, 2005, 35(3): 240-244
作者姓名:吴超  王红  杨士元
作者单位:清华大学,自动化系,北京,100084
摘    要:以复用核测试为目标的测试策略是解决SOC测试问题的基础.IEEE P1500标准是国际上正在制订的嵌入式核测试标准,该标准旨在简化核测试信息的复用,提高SOC级测试集成的效率.文章介绍了截至目前为止P1500标准的制订情况,包括嵌入式核测试的体系结构、P1500的标准化目标,以及P1500的两级服从认证等.

关 键 词:片上系统  测试复用  测试集成
文章编号:1004-3365(2005)03-0240-05

Reuse-Based SOC Test Integration and IEEE P1500 Standard
WU Chao,WANG Hong,YANG Shi-yuan. Reuse-Based SOC Test Integration and IEEE P1500 Standard[J]. Microelectronics, 2005, 35(3): 240-244
Authors:WU Chao  WANG Hong  YANG Shi-yuan
Abstract:The reuse-based test strategy is an efficient approach to SOC test.IEEE P1500 is a standard under development, which aims at improving ease of test reuse and test integration with respect to the core-based SOC. The outline of P1500 and its current situation are described, with emphasis on the embedded core test architecture and the intention of P1500 standardization. The two compliance levels defined by P1500 are also sketched.
Keywords:P1500
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