| 测试仪器发展概述 |
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| 引用本文： | 孙亚飞,陈仁文,周勇,龚海燕.测试仪器发展概述[J].仪器仪表学报,2003,24(5):480-484,489. |
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| 作者姓名： | 孙亚飞 陈仁文 周勇 龚海燕 |
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| 作者单位： | 南京航空航天大学智能材料与结构航空科技重点实验室,南京,210016 |
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| 基金项目： | 江苏省自然科学基金 (No.BK2 0 0 10 44)资助项目 |
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| 摘 要： | 简要概述了测试仪器的发展历史，同时对其各阶段的主要结构形式、性能特点等进行了介绍，最后对其未来发展方向进行了探讨。
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| 关 键 词： | 测试仪器 VXI总线 PXI总线 虚拟仪器 发展方向 智能仪器 |
Summary of the Development on the Testing Instruments |
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| Sun Yafei Chen Renwen Zhou Yong Gong Haiyan.Summary of the Development on the Testing Instruments[J].Chinese Journal of Scientific Instrument,2003,24(5):480-484,489. |
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| Authors: | Sun Yafei Chen Renwen Zhou Yong Gong Haiyan |
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| Abstract: | The paper summarized the history,main constructions and characteristics and so on about the testing instruments, and discussed the developing orientation of it in the future at last. |
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| Keywords: | Testing instruments VXI bus PXI bus Visual instruments(VI) |
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