基于MTM总线的边界扫描控制器设计与实现 |
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作者姓名: | 王帅 |
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作者单位: | 北京邮电大学,北京100876;湖南怀化学院,湖南怀化418008 |
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基金项目: | 国家863计划资助项目(2006AA04A106) |
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摘 要: | 超大规模集成电路和组装工艺快速发展,电路板结构和功能日趋复杂,将边界扫描技术应用于系统级测试,对提高系统的可靠性和可维护性具有重要的实用意义;在深入研究IEEE1149.5和IEEE1149.1标准的基础上,对基于MTM总线的边界扫描控制器结构进行了研究,解决了IEEE1149.5与IEEE1149.1协议转换中的关键技术,设计实现了内嵌边界扫描功能的MTM总线从模块,使用SpartanⅡ器件实现了基于MTM总线的边界扫描控制器;仿真和实验结果表明,IEEE1149.5总线接口、IEEE1149.1端口和TAP控制器功能正确,符合系统层次化测试的实际要求。
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关 键 词: | 系统级测试 MTM总线 IEEE1149.5 IEEE1149.1 |
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