| 晶体取向测量的计算公式及其图解法 |
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| 引用本文： | 付玮,符梁屏.晶体取向测量的计算公式及其图解法[J].材料导报,2011,25(8). |
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| 作者姓名： | 付玮 符梁屏 |
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| 作者单位： | 南昌航空大学无损检测技术教育部重点实验室; |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金(60675022); 江西省自然科学基金(2008GZS0034) |
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| 摘 要： | 为了便于测量和计算,通过系统X射线衍射实验研究和理论分析,改进了X射线衍射透射及反射几何关系图,推导出定量计算公式,并创立了晶体取向测量图形。使用这种定量计算公式及图形可以非常简便、迅速而又准确地得到晶体取向的反射衍射斑点θR和透射衍射斑点θT。为了便于精确测量和更有效地利用高级测试仪器,在X射线衍射仪日常工作的同时,使用原有线焦点等实验方法进行了累计X射线衍射斑点拍照研究。结果表明,用射线源线焦点拍照的精确度与点焦点相同,操作方便,并可大大缩短调机和开机时间,充分发挥了X射线衍射仪的作用。
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| 关 键 词： | 晶体取向 衍射斑点 线焦点 θ角圆形图 X射线源 |
Computing Formulae and Illustration Method for Crystal Orientation Measurement |
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| FU Wei,FU Liangping.Computing Formulae and Illustration Method for Crystal Orientation Measurement[J].Materials Review,2011,25(8). |
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| Authors: | FU Wei FU Liangping |
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| Affiliation: | FU Wei,FU Liangping(Key laboratory of Nondestructive Test of Ministry of Education,Nanchang Hangkong University,Nanchang 330063) |
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