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基于FPGA的直线反走样算法研究
引用本文:贾银亮,张焕春,经亚枝. 基于FPGA的直线反走样算法研究[J]. 计算机技术与发展, 2011, 21(2)
作者姓名:贾银亮  张焕春  经亚枝
作者单位:南京航空航天大学,自动化学院,江苏,南京,210016
基金项目:国家"十五"计划空装预研基金
摘    要:反走样是计算机图形学的基本问题.为了提高直线反走样的效率,针对FPGA硬件实现的特点,结合经典的Wu反走样算法,提出一种新的直线反走样算法.该算法根据像素点中心到理想直线的距离来计算灰度值,在生成直线时预测直线相邻像素点之间的灰度值变化,并建立递推公式,使用整数移位,加法和比较来完成直线反走样,计箅简单,便于硬件实现.经计算机和FPGA分别实现验证,新算法的反走样效果较好,运算速度快于Wu反走样算法并能通过FPGA进一步提高速度.

关 键 词:反走样  Wu算法

Research of Line Antialiasing Based on FPGA
JIA Yin-liang,ZHANG Huan-chun,JING Ya-zhi. Research of Line Antialiasing Based on FPGA[J]. Computer Technology and Development, 2011, 21(2)
Authors:JIA Yin-liang  ZHANG Huan-chun  JING Ya-zhi
Abstract:
Keywords:FPGA
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