| X射线荧光光谱法测定Dy_2O_3及其杂质Eu_2O_3,Gd_2O_3,Tb_4O_7,Ho_2O_3,Er_2O_3和Y_2O_3 |
| |
| 引用本文： | 宋永清,陆少兰. X射线荧光光谱法测定Dy_2O_3及其杂质Eu_2O_3,Gd_2O_3,Tb_4O_7,Ho_2O_3,Er_2O_3和Y_2O_3[J]. 冶金分析, 1999, 19(4): 1-1 |
| |
| 作者姓名： | 宋永清 陆少兰 |
| |
| 作者单位： | 北京有色金属研究总院!北京，100088 |
| |
| 摘 要： | 当前稀土应用范围越来越广，尤其Dy2O3和金属Dy其出口量不断增大．Dy2O3中所含杂质总量通常在0．1％～5％之间，该范围内的测定方法以XRFR为合适，快速、准确、无破坏．1实验部分1．l原理本法采用粉末直接压片法制样，在各元素分析线峰位上测量X射线强度，根据待测元素的X射线荧光光谱强度与含量的定量关系，选择相应的数学模型，由计算机自动计算出待测成份含量．1．2仪器和试剂荷兰飞利浦PW—1400顺序式X射线荧光光谱仪；康柏486计算机；电动小型油压机；万分之一精度分析天平．DyZO399．999％；EnD3，GdD3，ThAn，HoAn，ErD3…
|
| 关 键 词： | X射线荧光 Er_O_ Eu_O_ Dy_O_ 光谱法测定 Y_O_ Gd_O_ 测量条件 稀土杂质 粉末直接压片 |
Determination of Dy2O3 and Its Impurities:Eu2O3,Tb4O7,Ho2O3,Y2O3 by XRF |
| |
| Song Yongqing,Lu Shaolan. Determination of Dy2O3 and Its Impurities:Eu2O3,Tb4O7,Ho2O3,Y2O3 by XRF[J]. Metallurgical Analysis, 1999, 19(4): 1-1 |
| |
| Authors: | Song Yongqing Lu Shaolan |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | |
| 本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录！ |
| 点击此处可从《冶金分析》浏览原始摘要信息 |
|
点击此处可从《冶金分析》下载免费的PDF全文 |
|
