高速应用的薄膜MCM材料评述 |
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引用本文: | Salm.,LG 尹佳斌. 高速应用的薄膜MCM材料评述[J]. 计算机工程与科学, 1994, 16(3): 10-15 |
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作者姓名: | Salm. LG 尹佳斌 |
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摘 要: | 信号频率在100MHz以上时,材料性质对薄膜多芯片组件(MCM-D)的性能变得越来越重要。本文讨论高频下材料性质对MCM-D的电性能的影响。着重讨论介电常数、介质损耗角正切、互连金属电阻和互连金属趋肤深度等对系统性能的影响。对常用的MCM-D材料的这些性质作了比较。
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关 键 词: | 多芯片组件 薄膜 MCM 材料 |
Evaluation of Thin MCM Materials for High-Speed Applications |
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Abstract: | Material properties become an increasingly important part of thinfilm multichip module(MCM-D)performance as signal frequencies increase above 100MHz.This paper discusses the influence of materials properties on the electrical perfor-mance of MCM-D structures at high frequencies.Specifically,the paper discusses the im-pact on system performance of:dielectric constant,dielectric loss tangent,interconnectmetal resistance,and interconnect metal skin depth.These properties are compared forcommon MCM-D materials. |
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