可调带表式点接触浅孔测量卡规 |
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引用本文: | 李云龙,沈张煜,史衍,石俊.可调带表式点接触浅孔测量卡规[J].精密制造与自动化,2014(1):56-57,60. |
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作者姓名: | 李云龙 沈张煜 史衍 石俊 |
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作者单位: | 上海机床厂有限公司; |
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摘 要: | 针对在测量浅孔直径过程中出现的问题,分析了使用原有量具测量的难点,并设计和制作加工了新的可调带表式点接触浅孔测量卡规,以保证浅孔的测量精度。结果表明,本量具操作方便,可靠性强,提高了劳动生产效率。内孔尺寸的测量精度可控制在0.002 mm之内,从而解决了浅孔测量的难题,大大缩短了生产中的辅助工作时间,并节约了生产成本。
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关 键 词: | 可调带表式 点接触 浅孔 测量 卡规 |
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