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| 单模光纤宏弯损耗性能的试验研究 | |
| 作者姓名： | 彭星玲 张华 李玉龙 冯艳 |
| 作者单位： | 江西省南昌大学机器人与焊接自动化重点实验室; |
| 基金项目： | 国家自然科学基金(No.61067003)资助;江西省自然科学基金(No.20132BAB206024)资助;江西省教育厅科技项目(No.GJJ13064)资助;高等学校博士学科点博导基金(20123601110011)资助;高等学校博士点新教师基金(NO.20103601120005)资助 |
| 摘 要： | 研究了两种光纤(SMF28和1060XP)在波长1310nm处、弯曲半径5~15mm范围内的宏弯损耗性能。观察到了两种光纤宏弯损耗整体都随着弯曲半径增大而减小,并伴有振荡现象,其中1060XP光纤对宏弯损耗更敏感。用耦合模理论解释了WGM(whispering-gallery mode)对光纤宏弯损耗振荡的影响。测量了1060XP光纤涂覆层黑化后的宏弯损耗,结果表明:将光纤涂覆层烤黑能够减轻光纤宏弯损耗振荡。 |
| 关 键 词： | 单模光纤 宏弯损耗 WGM 涂敷层 |
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