基于液压模型的功率MOSFET有效输出电容测试方法 |
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作者姓名: | 温景超 李旭红 赵彦飞 于望 袁赵详 |
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作者单位: | 中国运载火箭技术研究院,北京,100076;中国运载火箭技术研究院,北京,100076;中国运载火箭技术研究院,北京,100076;中国运载火箭技术研究院,北京,100076;中国运载火箭技术研究院,北京,100076 |
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摘 要: | 输出电容是影响功率MOSFET开关损耗的重要参数。在开关应用中,根据输出电容C_(oss)来确定器件的开关损耗具有一定的局限性。为了准确地评估器件的开关损耗,研究了功率MOSFET的有效输出电容C_(oer)和C_(otr)及其测试方法。首先,以液压模型理论为基础阐述了器件参数C_(oer)和C_(otr)的具体含义,并完成相应的测试电路设计。然后,建立了基于测试电路的数值计算模型;为了保证测试精度,模型中充分考虑了电压测试电路产生的负载效应。最终,采用该方法对器件的有效输出电容进行测试和计算。实验结果表明,该测试方法能对功率MOSFET的有效输出电容进行可靠测试。
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关 键 词: | 功率MOSFET 开关损耗 液压模型 有效输出电容 测试电路 数值计算 |
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