基于深亚微米的低成本高可靠BOD电路 |
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引用本文: | 张猛华,薛海卫,于宗光,张继,陈振娇. 基于深亚微米的低成本高可靠BOD电路[J]. 电子技术应用, 2019, 45(7): 40-43 |
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作者姓名: | 张猛华 薛海卫 于宗光 张继 陈振娇 |
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作者单位: | 中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏无锡,214072;中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏无锡,214072;中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏无锡,214072;中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏无锡,214072;中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏无锡,214072 |
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摘 要: | 经常在MCU等应用系统中遇到系统电源电压出现欠压或意外掉电的情况,导致MCU的程序"跑飞"或丢失重要的数据。为了尽量避免这些情况的出现,掉电检测电路能够检测到系统供电电源异常,以提高系统的抗干扰能力和稳定性。提出一种基于180 nm工艺设计的掉电检测电路,具有结构简单、工作稳定可靠、版图面积小的优点,可集成在MCU等微处理器内部,实现对系统电源电压监测,减少系统的外围器件,降低系统成本。该电路结构可以非常容易地迁移至其他工艺节点,具备良好的工艺迁移特性和应用广泛性。
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关 键 词: | 单片机 掉电检测 掉电保护 上电复位 掉电复位 |
BOD circuit of low cost and high reliability based on deep submicron |
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Abstract: | |
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Keywords: | |
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