首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

基于深亚微米的低成本高可靠BOD电路
引用本文:张猛华,薛海卫,于宗光,张继,陈振娇. 基于深亚微米的低成本高可靠BOD电路[J]. 电子技术应用, 2019, 45(7): 40-43
作者姓名:张猛华  薛海卫  于宗光  张继  陈振娇
作者单位:中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏无锡,214072;中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏无锡,214072;中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏无锡,214072;中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏无锡,214072;中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏无锡,214072
摘    要:经常在MCU等应用系统中遇到系统电源电压出现欠压或意外掉电的情况,导致MCU的程序"跑飞"或丢失重要的数据。为了尽量避免这些情况的出现,掉电检测电路能够检测到系统供电电源异常,以提高系统的抗干扰能力和稳定性。提出一种基于180 nm工艺设计的掉电检测电路,具有结构简单、工作稳定可靠、版图面积小的优点,可集成在MCU等微处理器内部,实现对系统电源电压监测,减少系统的外围器件,降低系统成本。该电路结构可以非常容易地迁移至其他工艺节点,具备良好的工艺迁移特性和应用广泛性。

关 键 词:单片机  掉电检测  掉电保护  上电复位  掉电复位

BOD circuit of low cost and high reliability based on deep submicron
Abstract:
Keywords:
本文献已被 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号