| 零相位法石英晶片测试仪设计与实现 |
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| 引用本文： | 王华军,李东,王艳林.零相位法石英晶片测试仪设计与实现[J].仪器仪表标准化与计量,2006(2):29-31. |
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| 作者姓名： | 王华军 李东 王艳林 |
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| 作者单位： | 北京机械工业学院,电子信息工程系,北京市,100085 |
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| 摘 要： | 介绍零相位法石英晶片测试仪的设计。仪器由微控制器、复杂可编程逻辑器件、信号发生器、滤波器、π网络电路、幅度相位检测、数码显示和键盘控制等部分组成。仪器可在1MHz～60MHz范围内测试石英晶片的谐振频率、谐振电阻，具有测试方法符合国际标准、精度高、可检出寄生频率等特点，总体性能优于国内应用的其它石英晶片测试仪器。
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| 关 键 词： | 测试 π网络 石英晶片 谐振频率 |
| 收稿时间： | 2005-12-04 |
| 修稿时间： | 2005年12月4日 |
Design and Implementation of the Quartz Wafer Measuring Instrument by Zero Phase Technique |
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| Wang Huajun,Li Dong,Wang Yanlin.Design and Implementation of the Quartz Wafer Measuring Instrument by Zero Phase Technique[J].Instrument Standardization & Metrology,2006(2):29-31. |
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| Authors: | Wang Huajun Li Dong Wang Yanlin |
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| Affiliation: | Department of Electronic Information Engineering of Beijing Institute of Machinery, Beijing 100085 |
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