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单片式128×1氧化钒微测辐射热计非致冷焦平面的研制
作者姓名:陈永平  刘强  施永明  唐成伟  梁平治
作者单位:中国科学院上海技术物理研究所,上海,200083;中国科学院上海技术物理研究所,上海,200083;中国科学院上海技术物理研究所,上海,200083;中国科学院上海技术物理研究所,上海,200083;中国科学院上海技术物理研究所,上海,200083
基金项目:中科院预研项目(42201030104)
摘    要:采用氧化钒薄膜、低应力介质膜和CMOS读出电路技术,研制了单片式128×1非致冷焦平面.氧化钒薄膜的制备采用了一种新的方法,焦平面的信号读出采用了CTIA积分方式.应用一种双频PECVD技术制备了低应力氮化硅薄膜,有效改善了微桥的平整度.通过氮化硅和氧化钒薄膜自身的红外吸收,焦平面在8~14μm波段的平均响应率达到8.2×104V/W,平均D*达到2.3×108cmHz1/2/w.焦平面的均匀性需要进一步改善.

关 键 词:非致冷焦平面  氧化钒  低应力氮化硅  微桥
文章编号:1001-9014(2007)05-0336-04
收稿时间:2006-12-29
修稿时间:2006-12-29
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