| 电子器件生存概率及置信度的Bayes计算方法 |
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| 引用本文： | 郭春营,吴成迈,段占元,林源根. 电子器件生存概率及置信度的Bayes计算方法[J]. 太赫兹科学与电子信息学报, 2012, 10(6): 754-758 |
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| 作者姓名： | 郭春营 吴成迈 段占元 林源根 |
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| 作者单位： | 北京市清河大楼子六，北京 100085;北京市清河大楼子六，北京 100085;北京市清河大楼子六，北京 100085;北京市清河大楼子六，北京 100085 |
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| 摘 要： | 针对工程实践中经常遇到的小子样问题,分别以无信息分布、正态分布、产生正态性能分布作为电子器件生存概率随机变量的验前分布,给出了二项抽样实验验后生存概率密度的具体形式,根据某电子器件电流损伤阈值实验数据,得到特定辐射环境下器件生存概率的Bayes点估计、一定置信度下的双边估计、单边估计。仿真结果表明,产生正态性能验前分布要优于无信息分布和正态验前分布,该方法可以应用到工程实践中。
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| 关 键 词： | Bayes方法 小子样 生存概率 置信度 二项分布 正态分布 产生正态性能分布 |
| 收稿时间： | 2012-04-23 |
| 修稿时间： | 2012-06-06 |
Bayesian method to determine the survival probability and confidence of electrical devices under certain radiation environments |
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| GUO Chun-ying,WU Cheng-mai,DUAN Zhan-yuan and LIN Yuan-gen. Bayesian method to determine the survival probability and confidence of electrical devices under certain radiation environments[J]. Journal of Terahertz Science and Electronic Information Technology, 2012, 10(6): 754-758 |
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| Authors: | GUO Chun-ying WU Cheng-mai DUAN Zhan-yuan LIN Yuan-gen |
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| Affiliation: | (Zi-6 of Qinghe Building,Beijing 100085,China) |
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