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雷达天线测试中的若干结构问题
引用本文:
戚仁欣.雷达天线测试中的若干结构问题[J].现代电子,2002(1):7-13,21.
作者姓名:
戚仁欣
摘 要:
波瓣测试是低副瓣、超低副瓣天线研制中不可或缺的一个重要环节,结构人员积极介入其中是必要而有益的。本文就如何处理地面雷达天线远场测试中常见的若干结构问题阐述拙见,祈对测试工作和有关人员有所裨益。
关 键 词:
雷达天线
波瓣测试
被测装置
DUT
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