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| 半导体激光器中电场分布特性的连续波电光检测 | |
| 引用本文： | 祖华,王硕勤,丁纯,丁桂兰,吴小萍,陈良惠.半导体激光器中电场分布特性的连续波电光检测[J].半导体学报,1992,13(7):417-422. |
| 作者姓名： | 祖华 王硕勤 丁纯 丁桂兰 吴小萍 陈良惠 |
| 作者单位： | 浙江大学信息电子系 杭州310008 (朱祖华，王硕勤，丁纯，丁桂兰，吴小萍)，中国科学院半导体研究所 北京100083(陈良惠) |
| 摘 要： | 利用连续波电光检测法首次成功地对AlGaAs/GaAs半导体激光器中的电场分布进行了测量.测量结果直接表征了器件注入电流扩展和载流子限制特性. 本文简要地描述了方法的原理和实验装置,给出了典型的测量结果并对其进行了讨论. |
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