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降膜波动特性的研究
引用本文:陈丰秋,高峰,等.降膜波动特性的研究[J].化学反应工程与工艺,1990,6(1):52-56.
作者姓名:陈丰秋  高峰
作者单位:浙江大学化工系,浙江大学化工系,浙江大学化工系,浙江大学化工系
摘    要:本文提出了一种测定膜厚的新方法-双电导探针法,测定了高湍流降膜的厚度沿降膜管管程的变化情况,探讨了径向平均膜厚及膜厚的概率密度分布沿管程的变化规律,证明降膜的波动特性同时受到液相雷诺数和管程的影响。并对平均膜厚和液相雷诺数作了经验关联,得出NT=(δ^ )^2/3 8.92(ReL/4)^5/2 6.0×10^-6(ReL/4)^9/2]^2/15。

关 键 词:湍流降膜  双电导探针法  膜厚  概率密度分布  波动特性  传质  传热

A STUDY ON THE WAVE CHARACTERISTICS OF FALLING FILM
Chew Fengqiu Gao Feng Rong Shunxi Chen Gantang.A STUDY ON THE WAVE CHARACTERISTICS OF FALLING FILM[J].Chemical Reaction Engineering and Technology,1990,6(1):52-56.
Authors:Chew Fengqiu Gao Feng Rong Shunxi Chen Gantang
Abstract:
Keywords:Falling film  Dual cctivity probe  PDF of film thickness  Wwave characteristics
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