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适用于GaN栅极驱动的自适应死区时间控制电路
引用本文:程汉,叶益迭,潘春彪,奚争辉.适用于GaN栅极驱动的自适应死区时间控制电路[J].微电子学,2022,52(5):764-771.
作者姓名:程汉  叶益迭  潘春彪  奚争辉
作者单位:宁波大学 信息科学与工程学院, 浙江 宁波 315211
基金项目:浙江省自然科学基金资助项目(LY20F010003);宁波市自然科学基金资助项目(2019A610113);国家自然科学基金资助重点项目(62131010);宁波大学王宽诚幸福基金
摘    要:设计了一种适用于GaN栅极驱动的自适应死区时间控制电路,该电路具有低延时、低功耗、高速、高开关频率的特点。电路通过单脉冲产生电路检测开关节点电压,以实现零静态功耗;加入互锁电路以防误触发,消除了由开关节点毛刺导致的上下管直通的现象。电路基于SMIC 0.18 μm BCD工艺设计,仿真结果表明,死区时间可随负载变化而自适应调整,且当最坏情况开关节点电压的dv/dt=48 V/ns时,电路高低侧死区时间误差仅为1.59 ns和2.69 ns。

关 键 词:GaN    自适应死区时间控制    低功耗    互锁电路
收稿时间:2022/9/10 0:00:00

An Adaptive Dead Time Control Circuit for GaN Gate Drive
CHENG Han,YE Yidie,PAN Chunbiao,XI Zhenghui.An Adaptive Dead Time Control Circuit for GaN Gate Drive[J].Microelectronics,2022,52(5):764-771.
Authors:CHENG Han  YE Yidie  PAN Chunbiao  XI Zhenghui
Affiliation:Faculty of Electrical Engineering and Computer Science, Ningbo University, Ningbo, Zhejiang 315211, P. R. China
Abstract:
Keywords:GaN  adaptive dead time control  low power  interlock circuit
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