首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

一种具有低噪声高电源抑制的LDO电路设计
引用本文:王妍,杨潇雨,魏林,赵之昱. 一种具有低噪声高电源抑制的LDO电路设计[J]. 微电子学, 2022, 52(5): 837-842
作者姓名:王妍  杨潇雨  魏林  赵之昱
作者单位:1.模拟集成电路国家级重点实验室, 重庆 400060;2. 中国电子科技集团公司 第二十四研究所, 重庆 400060
基金项目:国家自然科学基金资助项目(6142802190101)
摘    要:设计了一种基于28 nm CMOS工艺的低噪声高电源抑制LDO电路。采用折叠共源共栅结构设计了高输出阻抗、高增益误差的放大器,降低了电源噪声对输出端的影响。采用共源共栅密勒补偿结构,保证电路在负载处于轻载/重载下保持较高的相位裕度,增强了环路稳定性。误差放大器输入端采用降噪模块电路,降低了噪声对整体LDO电路的影响。基于Cadence Spectre进行仿真分析的结果表明,在1.9 V电源电压下,负载由轻载10 mA突变为重载60 mA时,环路增益为77.6~91 dB,相位裕度达到76°~79°。在中间负载电流30 mA下,对电源抑制(PSR)和噪声进行了仿真。结果表明,电源抑制为-81.9 dB,低频噪声(1 kHz)为258 nV·Hz-1/2。对LDO整体电路进行了版图设计和后仿比对。结果表明,环路增益为83.2 dB,相位裕度为78°,PSR为-78.3 dB,低频噪声(1 kHz)为283 nV·Hz-1/2

关 键 词:28nm CMOS工艺  LDO  高电源抑制  低噪声
收稿时间:2022-05-03

Design of a LDO Circuit with Low Noise and High Power Suppression
WANG Yan,YANG Xiaoyu,WEI Ling,ZHAO Zhiyu. Design of a LDO Circuit with Low Noise and High Power Suppression[J]. Microelectronics, 2022, 52(5): 837-842
Authors:WANG Yan  YANG Xiaoyu  WEI Ling  ZHAO Zhiyu
Affiliation:1. National Laboratory of Science and Technology on Analog Integrated Circuit, Chongqing 400060,P. R. China;2. The 24th Research Institute of China Electronics Technology Corporation, Chongqing 400060, P. R. China
Abstract:
Keywords:28 nm CMOS process   LDO   high power rejection   low noise
点击此处可从《微电子学》浏览原始摘要信息
点击此处可从《微电子学》下载免费的PDF全文
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号