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扫描隧道显微镜和原子力显微镜
引用本文:夏国鑫.扫描隧道显微镜和原子力显微镜[J].光学仪器,1992,14(4):28-34.
作者姓名:夏国鑫
作者单位:上海光学仪器研究所 200093
摘    要:介绍了扫描隧道显微镜(STM)和原子力显微镜(AFM)的原理和目前情况。

关 键 词:扫描隧道显微镜  原子力显微镜

Scanning Tanneling Microscope and Atomic Force Microscope
Xia Guo-xin Shanghai Institute of Optical Instruments,Changlin Roa,Shanghai.Scanning Tanneling Microscope and Atomic Force Microscope[J].Optical Instruments,1992,14(4):28-34.
Authors:Xia Guo-xin Shanghai Institute of Optical Instruments  Changlin Roa  Shanghai
Affiliation:Xia Guo-xin Shanghai Institute of Optical Instruments,200093 115 Changlin Road,Shanghai
Abstract:This paper briefs the principle and some advance of scanning tunneling microscope (STM) and atomic force microscope (AFM).
Keywords:Scanning Tunneling Microscope  Atomic Force Microscope
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