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短波320×256抗辐射加固读出电路设计
作者姓名:梁艳  李煜  王博  白丕绩  李敏  陈虓
作者单位:昆明物理研究所
摘    要:设计了一款采用CMOS工艺的短波320×256抗辐射加固读出电路,分析了CMOS工艺抗辐射的特点,重点介绍了模拟通路、偏压产生电路和数字电路的加固设计方法,采用了双环保护结构、对NMOS管使用环形栅和冗余设计等措施。该设计电路经过流片,测试结果表明该抗辐射加固设计方法有效可行。

关 键 词:CMOS  读出电路  抗辐射加固
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