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| 氧缺失对Nd0.7Sr0.3MnO3外延膜结构和输运性的影响 | |
| 引用本文： | 孟影,金绍维,高娟,圣宗强.氧缺失对Nd0.7Sr0.3MnO3外延膜结构和输运性的影响[J].材料导报,2012,26(22):102-105,121. |
| 作者姓名： | 孟影 金绍维 高娟 圣宗强 |
| 作者单位： | 1. 安徽理工大学理学院,淮南232001;安徽大学物理与材料科学学院,合肥230039 2. 安徽大学物理与材料科学学院,合肥,230039 3. 安徽理工大学理学院,淮南,232001 |
| 基金项目： | 国家自然科学基金，安徽省教育厅自然科学基金 |
| 摘 要： | 不同厚度的Nd0.7Sr0.3MnO3(NSMO)外延膜是由脉冲激光沉积生长在(LaAlO3)0.3(Sr2AlTaO6)0.7(LSAT)(001)衬底上的。X射线衍射(XRD)和电阻率测量结果显示,沉积氧压为21.333Pa时薄膜c轴参数随着膜厚的减小而增加,同时金属-绝缘体的转变温度TP下降,电阻率增大;另一组生长在27.999Pa氧压下,厚度为120nm的薄膜单胞体积随着退火温度的升高而增大,同时电阻率升高,TP下降。上述结果归因于低的原位沉积氧压和真空退火引起的氧缺失导致n(Mn3+)/n(Mn4+)的增大以及MnO6八面体的畸变。结果表明,对超薄的应变薄膜,要获得较高的TP值,较高的沉积氧压是必需的,同时应仔细考虑真空退火对薄膜性能的影响。 |
| 关 键 词： | 外延膜 沉积氧压 真空退火 输运特性 |
Impact of Oxygen Deficiency on the Structure and Transport Properties in Epitaxial Nd0.7Sr0.3MnO3 Thin Film |
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| MENG Ying , JIN Shaowei , GAO Juan , SHENG Zongqiang.Impact of Oxygen Deficiency on the Structure and Transport Properties in Epitaxial Nd0.7Sr0.3MnO3 Thin Film[J].Materials Review,2012,26(22):102-105,121. | |
| Authors: | MENG Ying JIN Shaowei GAO Juan SHENG Zongqiang |
| Affiliation: | 1(1 School of Science,Anhui University of Science,Huainan 232001;2 School of Physics and Materials Science, Anhui University,Hefei 230039) |
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