铁电薄膜光学性质的研究 |
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作者姓名: | 胡志高 |
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作者单位: | 中国科学院上海技术物理研究所,上海,200083 |
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摘 要: | 本文对铁电薄膜的光学性质的研究进展进行了详细的总结。与人们对铁电薄膜的电学性质的研究相比,人们对光学性质的研究较少。由于铁电薄及其无定形薄膜都具有许多优良的电学性质,因此对它们的光学性质研究也很有必要。光学手段具有非破坏性,通过这种手段可以获得薄膜的光学常数折射率和消光系数,从而进一步获得它们的禁带宽度。中红外透射可以表征铁电薄膜内部结构的相变过程。通过远红外手段,可以研究薄膜的内部微观机制,如晶格振动等。最后,阐述了铁电薄膜及其无定形薄膜光学性质研究的发展方向。
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关 键 词: | 铁电薄膜 光学性质 光学常数 红外透射 远红外透射 反射 |
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