| SF6新气痕量杂质对SF6电气设备寿命的影响 |
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| 引用本文： | 裘吟君,袁静帆,陈晓琳.SF6新气痕量杂质对SF6电气设备寿命的影响[J].高电压技术,2013,39(2):360-364. |
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| 作者姓名： | 裘吟君 袁静帆 陈晓琳 |
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| 作者单位： | 1. 海南电力技术研究院,海口,570203
2. 海南电网公司,海口,570203 |
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| 基金项目： | 国家重点基础研究发展计划(973计划)(2009CB724506)~~ |
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| 摘 要： | 为了给电气设备中的SF6新气质量控制提供参考,研究了SF6新气中痕量杂质对电气设备运行寿命的影响。通过一个与电流互感器共气室的直线隔离开关装置,模拟了中心导杆上金属尖端放电内部缺陷。在220kV单电压和220kV、3 150A同步升流升压2种方式下,分别充入不同品质的SF6新气进行约100h的试验。并采用SF6气相色谱质谱分析技术、加拿大SF6杂质分析仪DPD,跟踪检测SF6气体痕量杂质各组分体积分数变化情况。结果表明,设备中充入低品质SF6新气(含有较高浓度的全氟烷烃、氟化硫酰、及碳硫氟化物等多种杂质),在放电末期产生较多的SO2F2、SOF2和SO2。而酸性的SO2对设备具有腐蚀作用,因此,当SF6新气中痕量杂质过高时,其充入电气设备后,将减少SF6电气设备运行寿命,尤其是开断设备。
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| 关 键 词： | SF6新气 痕量 杂质 质谱检测 SF6电气设备 寿命影响 |
Influence of Trace Impurities from SF6 New Gas on the Life of SF6-insulating Electrical Equipment |
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| QIU Yinjun
,
YUAN Jingfan
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CHEN Xiaolin.Influence of Trace Impurities from SF6 New Gas on the Life of SF6-insulating Electrical Equipment[J].High Voltage Engineering,2013,39(2):360-364. |
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| Authors: | QIU Yinjun YUAN Jingfan CHEN Xiaolin |
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| Affiliation: | 1(1.Hainan Electric Power Research Institute,Haikou 570203,China;2.Hainan Power Grid Company,Haikou 570203,China) |
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