塑封光电耦合器失效及其应用问题探究 |
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引用本文: | 阮若琳,王跃峰,王英飞,李亚娟.塑封光电耦合器失效及其应用问题探究[J].现代电子技术,2023(2):169-175. |
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作者姓名: | 阮若琳 王跃峰 王英飞 李亚娟 |
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作者单位: | 中航光电科技股份有限公司 |
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摘 要: | 光电耦合器以光为媒介传输电信号,广泛应用于各种领域的隔离信号传输。文中以某塑封光耦使用失效的问题为例,从元器件的失效分析结果探究其工程应用的优化方向。采用声学扫描、X-ray、开封检查及能谱分析等失效分析手段对失效器件进行分析,并对失效分析的内容依次探究解读,分析其受热应力、受潮、受腐蚀和工艺控制,及Au—Al键合点的IMC和Kirkendall空洞生成加速致使键合点开裂等方面的可能性。进一步对失效器件的电路设计及应用进行分析,从选型、电路工作参数计算出发,分析其输出端的设计缺陷和3只光耦并联的输出端电流工作状态,并进行结温计算,给出对电路设计状态的最终分析结论和其电路应用的优化方案,整理光耦选用要点和注意事项,为广大工程应用及电路设计者提供参考。
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关 键 词: | 光耦 塑封封装 失效分析 Au—Al键合失效 电路设计 电路应用 优化方案 选用要求 |
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