一种基于STM32的ADC数据采集系统设计

电池管理系统芯片是当前的主流芯片之一，其中ADC模块发挥着重要的作用。ADC静态参数中的INL和DNL是测评ADC性能的重要指标，但使用专业设备测试INL和DNL成本过高，因此开发价格低廉的测试板替代专业设备的需求日益显著。为此，文中设计一种价格低廉的ADC静态参数测试系统。首先，阐述测试系统的基本实现原理；然后，从硬件系统和软件系统两个方面进行具体设计。实验测试结果表明，所设计系统可靠性高且成本低廉，可用于电源管理芯片ADC模块的INL和DNL参数测试。