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| Preparation of location-specific thin foils from Fe–3% Si bi- and tri-crystals for examination in a FEG-STEM | |
| 摘 要： | |
| 收稿时间： | 2008-02-26 |
| 修稿时间： | 2008-08-04 |
| 本文献已被 ScienceDirect 等数据库收录！ | |
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