| LD参数连续测试系统研究 |
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| 引用本文： | 亢俊健,王大成,姚升武,焦长利,刘鹏鹏,安海忠,苏美开.LD参数连续测试系统研究[J].四川激光,2002,23(6):28-29. |
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| 作者姓名： | 亢俊健 王大成 姚升武 焦长利 刘鹏鹏 安海忠 苏美开 |
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| 作者单位： | [1]中国矿业大学机电工程系，北京100083 [2]中国地质大学工程技术学院，北京100083 |
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| 摘 要： | 本文介绍了一种新型半导体激光二极管（LD）参数连续测试系统，它采用了高精度的数据采集技术、超强的数据处理技术及精密机械定位技术，可对LD的P－I和V－I曲线及相关参数进行连续测试、显示、存储、管理和打印，测量速度快，测量精度高，操作方便。
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| 关 键 词： | 半导体激光二极管 参数测试 连续测试 光纤通信 |
| 修稿时间： | 2002年5月28日 |
Study on the Continuous Testing Tystem of LD |
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| Kang Junjian,Wang Dacheng,Yao Shengwu,Jiao Changli,Liu Pengpeng,An Haizhong,Su Meikai.Study on the Continuous Testing Tystem of LD[J].Laser Journal,2002,23(6):28-29. |
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| Authors: | Kang Junjian Wang Dacheng Yao Shengwu Jiao Changli Liu Pengpeng An Haizhong Su Meikai |
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| Affiliation: | Kang Junjian 1 Wang Dacheng 2 Yao Shengwu 3 Jiao Changli 3 Liu Pengpeng 2 An Haizhong 4 Su Meikai 5 |
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| Abstract: | This paper introduces a new type of continuous testing system of LD,it adopts the technology of high precise data sampling,strong data processing and the technology of exact mechanical orientation.The system can not only plot power-current curve and voltage-current curve of LD,and test multi-parameters,but also test continuously,display,storage,manage and print.In addition,it measures quickly and highly precision,manipulate conveniently. |
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| Keywords: | Semiconductor laser diode Parameter testing Continuous testing |
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