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Röntgenographische Eigenspannungsermittlung am Beispiel von PVD‐Multilayer‐Beschichtungen
Authors:W. Tillmann  U. Selvadurai‐Laßl  E. Vogli  G. Fischer  F. Hoffmann
Affiliation:Lehrstuhl für Werkstofftechnologie, Technische Universit?t Dortmund, Leonhard‐Euler‐Str. 2, 44227 Dortmund
Abstract:
Keywords:PVD‐Schichten  Multilayer    ntgenbeugung  Eigenspannung  Verschleiß    PVD‐layer  multilayers  X‐ray diffraction  residual stresses  wear
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