| 系统倾转技术在TEM中的新应用 |
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| 引用本文： | 戎咏华,何刚,陈世朴,胡赓祥. 系统倾转技术在TEM中的新应用[J]. 电子显微学报, 1998, 17(6): 758-762 |
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| 作者姓名： | 戎咏华 何刚 陈世朴 胡赓祥 |
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| 作者单位： | 上海交通大学国家教委高温材料及高温测试开放实验室,上海,200030 |
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| 摘 要： | 系统倾转样品是透射电子显微镜操作的一种重要实验技术，本文介绍了不依赖菊池花样实现系统倾转样品的方法，并采用该技术，发展了不依赖菊池花样精确测定电子束方向Ｂ和重位点阵持征参数ｌ／θ的两种方法。
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| 关 键 词： | 系统倾转 电子束方向 重位点阵 TEM 晶体结构 |
New Application of The Systematic Tilting Technique in TEM |
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| Rong Yonghua,He Gang,Chen Shipu,Hu Gengxiang. New Application of The Systematic Tilting Technique in TEM[J]. Journal of Chinese Electron Microscopy Society, 1998, 17(6): 758-762 |
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| Authors: | Rong Yonghua He Gang Chen Shipu Hu Gengxiang |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | systematic tilting electron beam direction coincidence site lattice parameter |
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