首页
|
本学科首页
官方微博
|
高级检索
全部学科
医药、卫生
生物科学
工业技术
交通运输
航空、航天
环境科学、安全科学
自然科学总论
数理科学和化学
天文学、地球科学
农业科学
哲学、宗教
社会科学总论
政治、法律
军事
经济
历史、地理
语言、文字
文学
艺术
文化、科学、教育、体育
马列毛邓
全部专业
中文标题
英文标题
中文关键词
英文关键词
中文摘要
英文摘要
作者中文名
作者英文名
单位中文名
单位英文名
基金中文名
基金英文名
杂志中文名
杂志英文名
栏目中文名
栏目英文名
DOI
责任编辑
分类号
杂志ISSN号
利用START工具实现用户自定义之内存测试方式
作者姓名:
张信豪
作者单位:
芯测科技股份有限公司
摘 要:
前言随着半导体技术不断发展,市面上的各种不同种类、特性的内存,诸如SRAM、ROM、Embedded Flash、DRAM、Embedded DRAM等纷纷被开发和广泛应用,而每个不同种类的内存,甚至不同供货商、不同制造厂提供的内存可能产生的缺陷也都不尽相同。为确保芯片上的内存工作正常,内建自我测试技术(Built-In Self-Test,BIST)成为芯片实作中,不可或缺的一部分。其作用是通过自我测试电路来提高测试的错误涵盖率,缩短设计周期,增加产品可靠度,并加快产品的上市速度。
关 键 词:
用户自定义
半导体技术
自我测试
DRAM
Flash
内存测试
测试电路
上市速度
本文献已被
维普
等数据库收录!
设为首页
|
免责声明
|
关于勤云
|
加入收藏
Copyright
©
北京勤云科技发展有限公司
京ICP备09084417号