| 多分类SVDD混叠域识别的模拟电路故障诊断 |
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| 引用本文： | 仝奇,胡双演,叶霞,张仲敏,李俊山. 多分类SVDD混叠域识别的模拟电路故障诊断[J]. 计算机测量与控制, 2016, 24(1): 50-53 |
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| 作者姓名： | 仝奇 胡双演 叶霞 张仲敏 李俊山 |
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| 作者单位： | 第二炮兵工程大学 信息工程系,西安 710025,第二炮兵工程大学 信息工程系,西安 710025,第二炮兵工程大学 信息工程系,西安 710025,西安通信学院,西安 710106 ,第二炮兵工程大学 信息工程系,西安 710025 |
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| 摘 要： | JP+1]针对多分类支持向量域数据描述(SVDD)方法中混叠样本诊断精度差的问题,提出了一种带异类样本的多分类SVDD算法；该方法在普通SVDD超球模型基础上,对于存在混叠区域的类别,以该类所有样本为目标类,其他类与之混叠的样本为异类,利用带异类样本的SVDD算法重新训练,直至所有超球优化完毕；仿真实验验证了文章算法消除混叠和提高精度的能力,并将该算法应用于模拟电路故障诊断中；相较与SVDD多分类算法、一对一和一对多SVM算法,文章方法在模拟电路故障诊断中具有更高的诊断精度。
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| 关 键 词： | 支持向量域数据描述 混叠 异类样本 故障诊断 模拟电路 [HJ1.6mm] |
| 收稿时间： | 2015-07-09 |
| 修稿时间： | 2015-09-06 |
An Approach to Discriminate Overlap Region of Multi-class Classification SVDD for Analog Circuits Fault Diagnosis |
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| Tong Qi,Hu Shuangyan,Ye Xi,Zhang Zhongmin and Li Junshan. An Approach to Discriminate Overlap Region of Multi-class Classification SVDD for Analog Circuits Fault Diagnosis[J]. Computer Measurement & Control, 2016, 24(1): 50-53 |
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| Authors: | Tong Qi Hu Shuangyan Ye Xi Zhang Zhongmin Li Junshan |
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