新型涂层厚度检测仪EI

<正> 金属基体上的涂层厚度检测是当今一项重要的技术,因为无论制造商还是使用者都必须控制涂层的质量。Karl Deutsch公司开发了新一代的无损检测涂层检测仪Leptoskop,这种全新仪器不仅能测量铁质基体上的非磁性涂层,而且能测量导体(包括非铁质的)基体上的非导体涂层。其中袖珍型Leptoskop是专为适应油漆厂、塑料涂层工厂和电镀厂的需要而设计的,它的探针可以