差分过孔焊环及反焊环对高速信号完整性影响的实验研究 |
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引用本文: | 纪成光.差分过孔焊环及反焊环对高速信号完整性影响的实验研究[J].电子器件,2020,43(2). |
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作者姓名: | 纪成光 |
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作者单位: | 生益电子股份有限公司 |
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基金项目: | 广东省东莞市重大科技专项项目(2018215105011) |
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摘 要: | 借助矢量网络分析仪研究了高速印制电路板信号层差分阻抗过孔焊环与相邻层反焊环尺寸对差分过孔阻抗、高速信号插入损耗及回波损耗的影响情况。结果表明,当焊环尺寸从2mil逐渐增大至 12mil时,过孔阻抗从84Ω 逐渐减小至75.8Ω,差分链路上的回波损耗及插入损耗则随阻抗匹配度减小而劣化,当相邻层反焊环尺寸从 8mil逐渐增大至20mil时, 过孔阻抗从79Ω逐渐增大至 84.6Ω,差分链路上的回波损耗及插入损耗则随阻抗匹配度增加而减小。
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关 键 词: | 印制电路板、高速信号、网络分析仪、过孔、差分阻抗、回波损耗、插入损耗 |
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