| 集成电路的通用单粒子效应测试系统设计 |
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| 引用本文： | 杨婉婉,刘海南,高见头,罗家俊,滕 瑞,韩郑生.集成电路的通用单粒子效应测试系统设计[J].太赫兹科学与电子信息学报,2021,19(2):347-351. |
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| 作者姓名： | 杨婉婉 刘海南 高见头 罗家俊 滕 瑞 韩郑生 |
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| 作者单位： | a.Institute of Microelectronics；b.Key Laboratory of Silicon Device Technology，Chinese Academy of Sciences，Beijing 100029，China; 1a.Institute of Microelectronics；1b.Key Laboratory of Silicon Device Technology，Chinese Academy of Sciences，Beijing 100029，China；2.School of Microelectronics，University of Chinese Academy of Sciences，Beijing 100029，China |
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| 摘 要： | 为满足种类繁多、功能复杂集成电路的单粒子效应评估需求，克服目前国内地面单粒子辐照实验环境机时紧张、物理空间有限等方面的限制，设计实现了一款高效通用的集成电路单粒子效应测试系统。创新性地采用旋转立体垂直结构，包含一个多现场可编程门阵列(FPGA)电测试平台、运动控制分系统和被测器件装载板。便携式箱体结构仅需3个DB9接口即可完成所有与外界连线；基于LabVIEW实现上位机交互界面，界面友好；基于多FPGA平台实现下位机测试程序，灵活可扩展，通用性强。可实现8种300及以下管脚集成电路的一次安装、自动切换和10°~90°的角度辐射。实时监控并后台记录翻转数据、翻转时间、电路状态等细节信息，测试频率可达100 MHz。已通过专用集成电路(ASIC)、静态随机存取存储器(SRAM)、控制器局域网络(CAN)接口电路等集成电路的多次实测，验证了该系统的可靠性及其高效稳定、集成度高、安装调试方便等特点。
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| 关 键 词： | 单粒子效应测试系统 旋转结构 角度辐射 虚拟仪器 |
| 收稿时间： | 2019/10/17 0:00:00 |
| 修稿时间： | 2019/12/24 0:00:00 |
Design of a general test system for integrated circuit Single Event Effect |
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| YANG Wanwan,LIU Hainan,GAO Jiantou,LUO Jiajun,TENG Rui,HAN Zhengsheng.Design of a general test system for integrated circuit Single Event Effect[J].Journal of Terahertz Science and Electronic Information Technology,2021,19(2):347-351. |
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| Authors: | YANG Wanwan LIU Hainan GAO Jiantou LUO Jiajun TENG Rui HAN Zhengsheng |
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